HINDS Exicor GEN 大幅面雙折射光學(xué)測量儀

HINDS Exicor GEN 大幅面雙折射光學(xué)測量儀

是專為大尺寸光學(xué)材料檢測打造的專業(yè)設(shè)備，核心基于 Exicor 低級雙折射測量技術(shù)與精密自動化運(yùn)動控制元件，可實(shí)現(xiàn)大幅面樣品的高精度雙折射檢測。

系統(tǒng)可掃描區(qū)域達(dá) 1150mm×1375mm，GEN5 等型號采用高張力鋼絲網(wǎng)載臺，樣品可測量區(qū)域，同時(shí)減少樣品下垂與彎曲，保障檢測精度。設(shè)備支持可選的高速 Scan In Motion™（SIM）選項(xiàng)，可大幅縮短檢測時(shí)間，最快僅需 12 分鐘即可完成樣品表征，提升檢測效率。

系統(tǒng)與早期 generation 型號兼容，設(shè)計(jì)可擴(kuò)展至更大尺寸材料，同時(shí)適配非顯示材料應(yīng)用，如低技術(shù)含量片材、商業(yè)窗玻璃等。設(shè)備搭載 PEMLabs™光彈性調(diào)制器與 Signaloc™鎖相放大器，延遲分辨率達(dá) 0.001nm，重復(fù)性 ±0.008nm，角分辨率 0.01°，重復(fù)性 ±0.05°，可同時(shí)測量雙折射大小與角度，支持雙軸晶格的 2D/3D 圖形可視化，直觀呈現(xiàn)檢測結(jié)果。