產品資料
美國 HINDS Exicor OIA 雙折射測量光學系統
產品名稱: 美國 HINDS Exicor OIA 雙折射測量光學系統
產品型號: Exicor® OIA
產品特點: 美國 HINDS Exicor OIA 雙折射測量光學系統是用于正入射、斜入射場景下，評估透鏡、平行面及曲面光學元件的雙折射檢測設備，基于成熟的照片彈性調制器技術，為光學元件分析與開發提供專業支持。
美國 HINDS Exicor OIA 雙折射測量光學系統 的詳細介紹
美國 HINDS Exicor OIA 雙折射測量光學系統
美國 HINDS Exicor OIA 雙折射測量光學系統
是針對光學元件檢測需求推出的專業設備，可在正入射和斜入射角度下，完成透鏡、平行面光學元件、曲面光學元件的雙折射測量，適配下一代光刻透鏡、透鏡坯料等高價值光學元件的分析與開發工作。
系統核心基于 HINDS Instruments 的照片彈性調制器（PEM）雙折射測量技術，利用偏振電磁波（PEM）調制光束的偏振狀態，搭配優良的檢測和解調電子設備，精準測量光學元件對光束偏振狀態的改變，以此獲取光學延遲數據，進而評估雙折射、快軸方向，以及理論殘余應力。
設備支持自動掃描平行平板、球面透鏡類型，非球面元件可通過手動宏程序完成掃描，可生成 2D 阻尼和快軸方向圖、掃描統計數據，直觀呈現檢測結果。系統配備舞臺前進裝載位置，可從上方自由訪問樣品臺，方便樣品取放；同時搭載紫外線和激光光封閉裝置、安全聯鎖裝置、緊急關閉按鈕、系統狀態指示燈塔，保障操作安全；配套用戶工作站、計算機和顯示器，滿足實驗室與工業場景的使用需求。
系統覆蓋可見光與深紫外多波段檢測，可見光延遲測量范圍 0 到 300 + 納米，深紫外延遲測量范圍 0 到 90 + 納米，延遲分辨率可達 0.001nm，角分辨率 0.01°，可滿足高精度光學元件的檢測要求，廣泛應用于半導體光刻、透鏡制造、光學元件研發等領域。
相關產品
在線客服