Photonic Lattice 顯微相位差測量儀

Name: Photonic Lattice 顯微相位差測量儀WPA-micro
Brand: 其他品牌
Price: 10000 CNY
Availability: InStock

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產(chǎn)品名稱: Photonic Lattice 顯微相位差測量儀

產(chǎn)品型號: WPA-micro

產(chǎn)品特點(diǎn): Photonic Lattice 顯微相位差測量儀，是專為顯微視野設(shè)計(jì)的高精度光學(xué)檢測設(shè)備，通過三波長測量技術(shù)拓展位相差測量范圍至 0～3500nm，可實(shí)現(xiàn)結(jié)晶配向分布評價(jià)，支持金屬等不透明樣品的反射評估，適配顯微級樣品的相位差、應(yīng)力、結(jié)晶取向檢測，是材料分析、科研實(shí)驗(yàn)室的專業(yè)儀器。

Photonic Lattice 顯微相位差測量儀 的詳細(xì)介紹

Photonic Lattice 顯微相位差測量儀

核心技術(shù)與性能優(yōu)勢

WPA-micro 通過測量三波長的屈折 / 位相差分布，突破傳統(tǒng)顯微測量局限，將位相差測量范圍拓展至 0～3500nm，可在顯微鏡視野中完成高精度屈折 / 位相差測量。設(shè)備搭載三波長合成測量技術(shù)，有效消除單波長測量誤差，獲得更全面、準(zhǔn)確的樣品相位差分布數(shù)據(jù)，位相差重復(fù)再現(xiàn) σ＜0.1nm，軸方位 σ＜0.1°，確保檢測結(jié)果穩(wěn)定可靠。

專屬顯微檢測能力

設(shè)備專為顯微級樣品設(shè)計(jì)，可在顯微鏡視野中數(shù)據(jù)化晶體取向分布，實(shí)現(xiàn)結(jié)晶配向分布評價(jià)，同時(shí)支持金屬等不透明樣品的反射評估，適配金屬、晶體、薄膜等各類顯微樣品的檢測需求。配套顯微鏡可選擇奧林巴斯或尼康品牌，滿足不同用戶的使用習(xí)慣與檢測需求，物鏡覆蓋 x2 至 x50 多倍率，適配不同尺寸顯微樣品的檢測。

應(yīng)用領(lǐng)域廣泛

設(shè)備適用于多個(gè)行業(yè)的檢測場景：

材料科研：金屬、晶體等樣品的結(jié)晶配向、應(yīng)力分布分析；
薄膜行業(yè)：各類薄膜的顯微級厚度、相位差均勻性檢測；
電子行業(yè)：半導(dǎo)體、芯片等微小部件的應(yīng)力、相位差分析；
光學(xué)材料：水晶、玻璃等透明材料的顯微級光學(xué)特性檢測。

操作與維護(hù)

設(shè)備配套 WPA-View 專用軟件，操作界面直觀，可實(shí)時(shí)查看測量數(shù)據(jù)、生成分析報(bào)告；支持連續(xù) / 間歇測量，適配不同檢測流程；設(shè)備結(jié)構(gòu)穩(wěn)定，維護(hù)簡單，GigE+RS-232C 雙接口實(shí)現(xiàn)數(shù)據(jù)高速傳輸與電機(jī)精準(zhǔn)控制，配套臺式電腦可直接完成檢測操作，無需復(fù)雜調(diào)試。豐富的可選功能，可根據(jù)檢測需求靈活定制，滿足不同行業(yè)的個(gè)性化檢測需求。

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