日本 Photonic Lattice 高精度相位差測量儀

Name: 日本 Photonic Lattice 高精度相位差測量儀WPA系列
Brand: 其他品牌
Price: 10000 CNY
Availability: InStock

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產(chǎn)品名稱: 日本 Photonic Lattice 高精度相位差測量儀

產(chǎn)品型號: WPA系列

產(chǎn)品特點: 日本 Photonic Lattice 高精度相位差測量儀，是一款高精度光學(xué)測量設(shè)備，通過三波長測量技術(shù)，將位相差測量范圍拓展至 0～3500nm，適用于薄膜、透明樹脂等產(chǎn)品的厚度、相位差、應(yīng)力測量，覆蓋從顯微鏡尺寸到約 50cm 大尺寸樣品，是光學(xué)材料、薄膜、樹脂制品檢測的專業(yè)儀器。

日本 Photonic Lattice 高精度相位差測量儀 的詳細(xì)介紹

日本 Photonic Lattice 高精度相位差測量儀

WPA 系列采用三波長測量分布技術(shù)，突破傳統(tǒng)測量局限，將位相差測量范圍拓展至 0～3500nm，可精準(zhǔn)測量薄膜、透明樹脂等透明 / 半透明樣品的相位差、軸方位，數(shù)據(jù)處理選項還可實現(xiàn)應(yīng)力值換算，滿足光學(xué)材料、薄膜制品的高精度檢測需求。設(shè)備測量精度高，位相差重復(fù)再現(xiàn) σ＜0.1nm，軸方位 σ＜0.1°，確保檢測結(jié)果穩(wěn)定可靠。

多型號適配全場景

系列包含三款型號，覆蓋不同尺寸樣品的檢測需求：

WPA-200：小型臺式，適合實驗室、小尺寸樣品檢測，重量僅約 13kg，安裝便捷；
WPA-200-L：中型款，視野尺寸更大，適配中等尺寸樣品，兼顧精度與效率；
WPA-200-XL：大尺寸款，最大可測約 50cm 樣品，適合大型板材、面板檢測，滿足工業(yè)大尺寸樣品檢測需求。

應(yīng)用領(lǐng)域廣泛

設(shè)備適用于多個行業(yè)的檢測場景：

光學(xué)材料：水晶、玻璃、透明樹脂等相位差、應(yīng)力檢測；
薄膜行業(yè)：各類薄膜厚度、相位差均勻性檢測；
電子行業(yè)：儀表板、膠卷等產(chǎn)品的應(yīng)力、相位差分析；
科研實驗室：材料光學(xué)特性研究、應(yīng)力分析等。

操作與維護(hù)

設(shè)備配套 WPA - 視圖軟件，操作界面直觀，可實時查看測量數(shù)據(jù)、生成分析報告；支持連續(xù) / 間歇測量，適配不同檢測流程；設(shè)備結(jié)構(gòu)穩(wěn)定，維護(hù)簡單，GigE 接口實現(xiàn)數(shù)據(jù)高速傳輸，配套臺式電腦可直接完成檢測操作，無需復(fù)雜調(diào)試。

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