日本 Photonic Lattice 高精度相位差測量儀
產(chǎn)品名稱: 日本 Photonic Lattice 高精度相位差測量儀
產(chǎn)品型號: WPA系列
產(chǎn)品特點: 日本 Photonic Lattice 高精度相位差測量儀,是一款高精度光學(xué)測量設(shè)備,通過三波長測量技術(shù),將位相差測量范圍拓展至 0~3500nm,適用于薄膜、透明樹脂等產(chǎn)品的厚度、相位差、應(yīng)力測量,覆蓋從顯微鏡尺寸到約 50cm 大尺寸樣品,是光學(xué)材料、薄膜、樹脂制品檢測的專業(yè)儀器。
日本 Photonic Lattice 高精度相位差測量儀 的詳細(xì)介紹
日本 Photonic Lattice 高精度相位差測量儀
日本 Photonic Lattice 高精度相位差測量儀
WPA 系列采用三波長測量分布技術(shù),突破傳統(tǒng)測量局限,將位相差測量范圍拓展至 0~3500nm,可精準(zhǔn)測量薄膜、透明樹脂等透明 / 半透明樣品的相位差、軸方位,數(shù)據(jù)處理選項還可實現(xiàn)應(yīng)力值換算,滿足光學(xué)材料、薄膜制品的高精度檢測需求。設(shè)備測量精度高,位相差重復(fù)再現(xiàn) σ<0.1nm,軸方位 σ<0.1°,確保檢測結(jié)果穩(wěn)定可靠。
多型號適配全場景
系列包含三款型號,覆蓋不同尺寸樣品的檢測需求:
WPA-200:小型臺式,適合實驗室、小尺寸樣品檢測,重量僅約 13kg,安裝便捷;
WPA-200-L:中型款,視野尺寸更大,適配中等尺寸樣品,兼顧精度與效率;
WPA-200-XL:大尺寸款,最大可測約 50cm 樣品,適合大型板材、面板檢測,滿足工業(yè)大尺寸樣品檢測需求。
應(yīng)用領(lǐng)域廣泛
設(shè)備適用于多個行業(yè)的檢測場景:
光學(xué)材料:水晶、玻璃、透明樹脂等相位差、應(yīng)力檢測;
薄膜行業(yè):各類薄膜厚度、相位差均勻性檢測;
電子行業(yè):儀表板、膠卷等產(chǎn)品的應(yīng)力、相位差分析;
科研實驗室:材料光學(xué)特性研究、應(yīng)力分析等。
操作與維護(hù)
設(shè)備配套 WPA - 視圖軟件,操作界面直觀,可實時查看測量數(shù)據(jù)、生成分析報告;支持連續(xù) / 間歇測量,適配不同檢測流程;設(shè)備結(jié)構(gòu)穩(wěn)定,維護(hù)簡單,GigE 接口實現(xiàn)數(shù)據(jù)高速傳輸,配套臺式電腦可直接完成檢測操作,無需復(fù)雜調(diào)試。