產品資料
光切斷法自動對焦高度測量顯微鏡
產品名稱: 光切斷法自動對焦高度測量顯微鏡
產品型號:
產品特點: 光切斷法自動對焦高度測量顯微鏡，日商精密光學 AF-Micron 光切斷法自動對焦高度測量儀，融合光切斷成像與自動對焦技術，0.1μm 高精度讀數，±1μm 重復精度，可快速測量精密工件臺階高度、表面粗糙度，適配微小空間與復雜形貌檢測。
光切斷法自動對焦高度測量顯微鏡 的詳細介紹
光切斷法自動對焦高度測量顯微鏡
光切斷法自動對焦高度測量顯微鏡
是日本日商精密光學株式會社推出的新型高精度測量設備，融合光切斷 slit 成像與 spot 光成像技術，搭載自動對焦 AF 追蹤系統，實現非接觸式、高精度的深度、高度、臺階測量，為精密加工件檢測提供高效解決方案。
設備通過連續追蹤 AF 驅動，可重復進行高精度測量，操作簡便快速。利用狹縫成像實時識別測量畫面高低，輕松定位測量部位；通過校驗狹縫像、斑點光像、電子基準線的中心一致性，有效防止誤測，保障數據可靠性。光切斷仰角除標準 90° 外，還可根據用途選擇 30°、60°、120°，適配不同檢測場景。
儀器采用 0.1μm 數字線性標尺讀數，±1μm 以內的重復精度，可精準測量機械加工部件、成型品、薄膜、基板等的表面粗糙度、搭載部件高度位置、沖壓件、模具等精密加工品，也可完成傳統鹵素光源顯微鏡無法測量的試樣檢測。支持自動 / 手動雙模式切換，自動模式下 XY 軸移動臺可快速批量測量，手動模式可作為微米級深度高度測量儀使用。
日商精密光學 AF-Micron 光切斷法自動對焦高度測量儀憑借非接觸式、高精度、快速檢測的核心優勢，廣泛應用于精密制造、模具加工、半導體、3C 電子等領域的質量檢測。設備支持規格定制，可根據用戶需求調整鏡頭、狹縫、仰角等參數，提供原廠安裝調試、技術支持服務，整機質保 12 個月，長期提供配件供應，保障設備穩定運行。
產品目錄
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- 記錄器
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- 隔膜泵
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- 檢針器
- 溫度計
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- 風速計
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