半導體晶圓目視檢查高照度光源鹵素燈

半導體晶圓目視檢查高照度光源鹵素燈

主要特點：

• 超高亮度：樣品表面照度可達 400,000 Lx 以上，能清晰檢測微小劃痕、異物、拋光不均等缺陷 。
• 冷鏡技術：采用冷鏡減少熱影響，熱效應僅為傳統鋁鏡的 1/3，有效保護樣品和設備。
• 色溫高：鹵素燈色溫達 3,400K，照明穩定、銳利，適合高精度檢測。
• 兩段式切換：支持一鍵切換高照度與低照度觀察模式，適應不同檢測需求 。

技術參數（YP-150ID）：

應用場景：

• 半導體晶圓表面缺陷檢測（如劃痕、異物、霧度等）；
• 液晶基板、玻璃等材料的表面質量檢查；
• 適用于 6 英寸及以下尺寸樣品的檢查。

主要特點：

• 超高亮度：樣品表面照度可達 400,000 Lx 以上，能清晰檢測微小劃痕、異物、拋光不均等缺陷 。
• 冷鏡技術：采用冷鏡減少熱影響，熱效應僅為傳統鋁鏡的 1/3，有效保護樣品和設備

  。
• 色溫高：鹵素燈色溫達 3,400K，照明穩定、銳利，適合高精度檢測

  。
• 兩段式切換：支持一鍵切換高照度與低照度觀察模式，適應不同檢測需求 。

技術參數（YP-150ID）：

應用場景：

• 半導體晶圓表面缺陷檢測（如劃痕、異物、霧度等）；
• 液晶基板、玻璃等材料的表面質量檢查；
• 適用于 6 英寸及以下尺寸樣品的檢查

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