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densoku電解式測(cè)厚儀的原理及特點(diǎn)
densoku電解式測(cè)厚儀的原理及特點(diǎn)
電解膜厚度測(cè)量原理
鍍膜厚度是通過陽極電解法溶解鍍膜來測(cè)量的，這是一種應(yīng)用規(guī)則測(cè)量鍍層厚度的方法 （陽極電解電路見圖1）在鍍膜結(jié)束時(shí)，由于測(cè)量部分被恒定電流溶解，膜金屬消失，當(dāng)基體金屬出現(xiàn)時(shí)，陽極電壓發(fā)生變化，并且檢測(cè)到此電壓變化以結(jié)束測(cè)量。（見圖二）
電解膜測(cè)厚儀的特點(diǎn)
雖然是破壞型測(cè)量，但可以通過簡(jiǎn)單的測(cè)量來測(cè)量，也可以測(cè)量多層電鍍。
可測(cè)量雙鎳、三鎳各層膜厚及電位差
可以分別測(cè)量銅鍍錫時(shí)形成的純錫層和合金層的厚度。
可以測(cè)量 X 射線無法測(cè)量的厚多層鍍層（最大 300 μm）
通過使用線測(cè)試儀，可以測(cè)量細(xì)線的電鍍膜厚度。
使用示例
鍍錫線（鍍錫銅線）純錫層厚度測(cè)量
汽車外飾件用Cr/Ni/Cu三層鍍層測(cè)量，鍍Ni用
雙鎳/三鎳電位差測(cè)量與非破壞性薄膜測(cè)厚儀的測(cè)量結(jié)果進(jìn)行交叉檢查
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