電子元器件外觀檢測(cè)設(shè)備介紹結(jié)果/實(shí)例

壓制產(chǎn)品的寬度、尺寸和彎曲檢查

檢查電容器上的劃痕、污垢和裂紋

檢查芯片類零件的劃痕和裂紋

帶內(nèi)污垢/芯片檢查

端子毛刺間距檢查

外殼毛刺、碎屑和異物檢查

終端驅(qū)動(dòng)后的間距/共面性檢查

一體成型后端子塌陷、樹脂蓋檢查

鉛檢

將引線零件注冊(cè)為模型并通過搜索檢測(cè)每個(gè)引線。
之后，可以檢測(cè)每個(gè)引線的前端位置，并可以檢查引線之間的間距、每個(gè)引線前端的變化、從引線根部的引線長度等。

檢查目標(biāo)位置

共面性檢查

設(shè)置參考線并檢查引線是否在該容差范圍內(nèi)。
從側(cè)面拍攝圖像并檢查其是否浮動(dòng)。

模具檢驗(yàn)

我們檢查模具表面的字符并檢查是否有劃痕。